1、導(dǎo)言
    1.1 范圍
    本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。
    本試驗(yàn)的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。
    注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運(yùn)輸或使用的產(chǎn)品，這種綜合環(huán)境對(duì)于施加于產(chǎn)品上的應(yīng)力或失效機(jī)理的影響是十分重要的，應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn):
    ——GB/T 2423.25 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
    ——GB/T 2423. 26電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
    1.2 規(guī)范性引用文件
    下列文件中的條款通過GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本適用于本部分。
    GB/T 2421電工電 子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 1部分:總則（GB/T 2421- 1999， IEC 60068-1: 1988，IDT）
    GB/T 2423. 25電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)（GB/T 2423. 25一2008 ，1EC 60068-2-40 :1983 ，IDT）
    GB/T 2423. 26電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)（GB/T 2423. 26一2008 ，1EC 60068-2-41 : 1983，IDT）
    ISO 2533標(biāo)準(zhǔn)大氣
    2、一般說明
    將試驗(yàn)樣品放入高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（室），然后將試驗(yàn)箱（室）內(nèi)氣壓降低到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。
    3、試驗(yàn)設(shè)備
    高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（室）應(yīng)具有能保持本部分第4章所規(guī)定的低氣壓條件的能力。
    在恢復(fù)氣壓至正常時(shí)，應(yīng)注意避免發(fā)生由于輔助設(shè)備、裝置及導(dǎo)人不清潔的空氣而使箱內(nèi)空氣發(fā)生污染的情況。
    當(dāng)對(duì)散熱試驗(yàn)樣品進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，相關(guān)規(guī)范可根據(jù)GB/T2423.26的要求對(duì)試驗(yàn)箱（室）進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊?guī)定。
    4、嚴(yán)酷等級(jí)
    相關(guān)規(guī)范應(yīng)當(dāng)規(guī)定氣壓和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的嚴(yán)酷等級(jí)，其值應(yīng)從4.1和4.2的規(guī)定中優(yōu)先選擇。

    4.1 氣壓
    在高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（室）中應(yīng)能保持表1中的氣壓，其容差為±5%或±0.1 kPa（取較大值），在嚴(yán)酷等級(jí)為84 kPa時(shí)的容差為±2 kPa。
    4.2試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間
    相關(guān)規(guī)范應(yīng)優(yōu)先選用下列試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間之一:
    ——5 min；
    ——30 min；
    ——2 h；
    ——4 h；
    ——16 h。
    5、預(yù)處理
    可根據(jù)相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行預(yù)處理。
    6、初始檢測(cè)
    應(yīng)按相關(guān)規(guī)范要求對(duì)樣品進(jìn)行視檢及電氣與機(jī)械性能檢測(cè)。
    7、條件試驗(yàn)
    7.1高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（室）內(nèi)的溫度應(yīng)在規(guī)定的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件溫度范圍內(nèi)。
    當(dāng)不要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，樣品應(yīng)在不包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)，按其正常位置（除非另有規(guī)定）放人高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（室）內(nèi)。
    7.2 將高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（室）內(nèi)的氣壓降低到符合規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)的值，如有需要，相關(guān)規(guī)范可規(guī)定氣壓變化速度不大于10 kPa/ min。
    7.3當(dāng)要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，樣品應(yīng)通電或加電氣負(fù)載，應(yīng)檢查確定試驗(yàn)樣品是否能滿足相關(guān)規(guī)范規(guī)定的功能。試驗(yàn)樣品可按規(guī)定的持續(xù)時(shí)間保持在運(yùn)行狀態(tài)，或是按相關(guān)規(guī)范的要求斷開電源。
    若相關(guān)規(guī)范要求中間檢測(cè)時(shí)，則應(yīng)進(jìn)行中間檢測(cè)。
    對(duì)散熱試驗(yàn)樣品，相關(guān)規(guī)范可要求在降低氣壓以前或以后對(duì)試驗(yàn)樣品通電足夠長(zhǎng)的時(shí)間，使其達(dá)到熱穩(wěn)定，并進(jìn)行功能試驗(yàn)和（或）檢測(cè)。
    7.4氣壓應(yīng)保持規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。
    7.5 使氣壓恢復(fù)到常壓，若相關(guān)規(guī)范有要求時(shí)，氣壓變化的速度應(yīng)不超過10 kPa/ min。
    8、恢復(fù)
    若相關(guān)規(guī)范無(wú)其他規(guī)定，試驗(yàn)樣品應(yīng)保持在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，時(shí)間不少于1 h，但也不超過2 h。
    9、后檢測(cè)
    應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的要求，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行視檢及電氣與機(jī)械性能檢測(cè)。
    10、相關(guān)規(guī)范應(yīng)給的資料
    相關(guān)規(guī)范應(yīng)用本試驗(yàn)方法時(shí)，應(yīng)盡量給出下列適用的細(xì)節(jié):
    a）預(yù)處理（見第5章）；
    b）初始檢測(cè)（見第6章）；
    c）條件試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)樣品狀態(tài)（見7.3）；
    d）嚴(yán)酷等級(jí):試驗(yàn)氣壓和持續(xù)時(shí)間（見第4章）；
    e）對(duì)采用壓 力變化速度的限制（見7.2和/或7.5）；
    f）條件試驗(yàn)期間熱穩(wěn)定、檢測(cè)和（或）負(fù)載檢查（見7.1或7.3）；
    g）恢復(fù)（見第 8章）；
    h）后檢測(cè)（見第 9章）。