電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)的目的及操作流程
作者:
salmon范
編輯:
瑞凱儀器
來源:
m.shengyiguangdian.cn
發(fā)布日期: 2019.08.10
1、前言
1.1 目的
確定元件曝露于高低溫極值下,以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力。
1.2 應(yīng)用
試驗(yàn)樣品的失效數(shù)應(yīng)以后檢測為依據(jù)。
2、試驗(yàn)條件
2.1極值溫度及循環(huán)次數(shù)
見表1.
2.2 極值溫度下的試驗(yàn)時間
見表2
3、對試驗(yàn) 設(shè)備的要求
3.1
冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)能提供第2章表1所規(guī)定的極值溫度條件。
3.2
冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)符合GJB360.1-87《電子及電氣元件試驗(yàn)方法 總則》第4.4條a的規(guī)定。
3.3冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)有足夠的熱容量,以便試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱后,在5min內(nèi)工作空間就能達(dá)到所規(guī)定的溫度值。
3.4試驗(yàn)樣品的安裝和支撐架的導(dǎo)熱率應(yīng)低,以保證試驗(yàn)樣品與安裝和支撐架間處于一種絕熱狀態(tài)。
4、試驗(yàn)程序
4.1初始檢測
在試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定對試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查和性能檢測。
4.2試驗(yàn) 樣品的安裝
試驗(yàn)樣品的安裝由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)裝入冷熱沖擊試驗(yàn)箱時,應(yīng)使氣流暢通無阻地穿過及繞過試驗(yàn)樣品。
4.3試驗(yàn)
4.3.1將試驗(yàn)樣品置于低溫箱中,此時,低溫箱的溫度已調(diào)至表1規(guī)定的極值溫度,并在此溫度下按表2規(guī)定的時間進(jìn)行保溫。
4.3.2保溫 時間到,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品從低溫箱移至高溫箱中。此時,高溫箱的溫度已調(diào)至表1規(guī)定的極值溫度,并在此溫度下按表2規(guī)定的時間進(jìn)行保溫。
4.3.3保溫時間到,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時,低溫箱的溫度已調(diào)至4.3.1款的極值溫度,并在此溫度下按4.3. 1款的試驗(yàn)時間進(jìn)行保溫。
4.3.4按表1規(guī)定的循環(huán)次數(shù),重復(fù)4.3.1至4.3.3款。一次循環(huán)包括表1中的步驟1至步驟4。
初的5次循環(huán)應(yīng)連續(xù)地進(jìn)行。5次循環(huán)后,在任何一次循環(huán)完成之后都可以中斷試驗(yàn)。再恢復(fù)試驗(yàn)之前可允許試驗(yàn)樣品恢復(fù)到試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件。
4.4中間檢測
由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
4.5 恢復(fù)
后循環(huán)結(jié)束,試驗(yàn)樣品置于試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定。4.6 后檢測
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查和性能測量。
5、失效數(shù)據(jù)
由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
6、采用本標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)規(guī)定的細(xì)則
a.安裝方法(見4.2條);
b.以字母為代號的試驗(yàn)條件(見4.3.1.4.3.2及4.3.4款);c. 初始、中間及后檢測(見4.1.4.4及4.6條)。